ناشر: | نسل روشن |
---|---|
نویسندگان: | تری آلفورد – لئونارد فلدمن – جیمز مایر |
مترجم: | علی رمضاننژاد |
تیراژ: | 100 |
نوبت چاپ: | اول |
سال نشر: | 1402 |
تعداد صفحات: | 390 |
شابک: | 978-622-323-217-6 |
شماره کتابشناسی ملی: | 9144796 |
مبانی تحلیل و بررسی فیلم نانومقیاس
قیمت : 279,000تومان
یکی از مشخصههاي مهم در تکامل فناوريهاي مدرن، نقش مهم سطوح بر ویژگیهاي مواد است. این امر
در مقیاس نانو نیز صادق است. در این کتاب بر مفاهیم فیزیکی تکنیکهاي استفاده شده در تجزیه و تحلیل
سطوح و همچنین نزدیک سطوح متمرکز شدیم. تکنیکهاي جدید تحلیلی نیازهاي فناوري را برآورده
میسازند و همهي آنها مبتنی بر فرآیند برهمکنش ذرات و تابش با ماده هستند. کاشت یون و پالس از
پرتوهاي الکترونی و لیزرها براي اصلاح ترکیب و ساختار استفاده میشود. فیلمهاي نازك از چشمههاي
مختلف لایه نشانی شدهاند. لایههاي برآرایی از پرتوهاي مولکولی و تکنیکهاي بخار فیزیکی و شیمیایی
رشد میکنند. واکنشهاي اکسیداسون و کاتالیزوري تحت شرایط کنترل شده مطالعه شدهاند. کلید این
روشها قابلیت دسترسی تکنیکهاي تحلیلی است که به ترکیب و ساختار مواد جامد در مقیاس نانومتر
حساس هستند.
این کتاب بر تکنیکهاي فیزیکی مورد استفاده جهت تجزیه و تحلیل سطح مواد متمرکز شده است.
همچنین در ادامه به اصول این فرآیندها و شدتهاي ساطع شده از ذرات انرژيزا، فوتونها و همچنین
کاربردهاي تجزیه و تحلیل مواد نیز میپردازیم.
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.